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产品详情

压痕粒子检查设备

类别:
3600系列
型号:
压痕粒子检查设备
概述:
cog/fog/cof本压后粒子和偏移检测

详细介绍

主要用于cog/fog/cof本压后粒子和偏移检测。配置高解析显微镜,自动对焦功能

针对产品的 ic chip、fpc、cof 偏移、导电粒子数目及压痕强度和压痕长度、异物、破片(邦定区) 等不良项目,将良品与不良品进行分析判定分拣


功能特点:

  • 整机配置入料转接平台-直线上下料模组-测试平台2组-线扫描相机模组-抛料-出料皮带线

  • 预留外接投料口,实现与全自动线体信号对接兼容人工上料

  • 线扫描相机激光传感器自动测高控

  • 多种机型可选择:单边单颗,单边多颗或双边多颗


漏检率≤0.01%  (漏检率=规格外产品错判为内的数量/总投入量

过检率≤1%  (过检率=规格内产品错判为外的数量/总投入量)


cyai3600  

适用尺寸:1"-8"

检查边max1边:(1souce)2~8 inch panel            (1souce边1ic 1fpc):≦3.5s/pcs


cyai600a(双平台)  

适用尺寸:1"-10.1"

检查边max1边:(1souce)1~10.1 inch panel       (1souce边1ic 1fpc):≦4.5s/pcs


cyai800  

适用尺寸:4"-17.6"

检查边4~8 inch panel                                              (1souce边 1ic 1 fpc):≦4.5s/pcs

检查边8~17.6 inch panel                                         (1souce边1ic 1fpc-1gate 1ic):≦6s/pcs      每加个检测位多加1.5秒


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